日本densoku渦電流式膜厚計(jì) D-20
日本densoku渦電流式膜厚計(jì) D-20
コンパクトで攜帯可能
短時(shí)間測定で時(shí)代のニーズに応える膜厚計(jì)
?重量2.0kgの軽量コンパクト
?スイッチを入れると同時(shí)に測定開始、測定時(shí)間も1秒以內(nèi)
?水晶発振方式により、高安定(±1%)高精度
?非破壊だから全數(shù)検査が可能
?直読式だから換算不要
軽量コンパクト
攜帯ができます。
すぐに測定が可能
スイッチを入れると同時(shí)に測定が可能。測定時(shí)間も1秒以內(nèi)です。
高安定(±1%)高精度
水晶発振方式により、高安定(±1%)高精度。
全數(shù)検査が可能
非破壊ですので全數(shù)検査ができます。
換算の必要なし
直読式で換算の必要がありません。
多様な測定に対応
金屬上の皮膜、めっき、塗裝、樹脂等の測定ができます(例:アルミ上の酸化膜、鉄上の亜鉛等のめっき、塗裝)。
各種専用測定器になる
スケール板を取り替えるだけで、各種専用測定器になります。
測定面積3m㎡以上
測定面積3m㎡以上のものに対応。
非金屬上の金屬皮膜も測定
非金屬上の金屬皮膜(例 プラスチック上のめっき)の測定ができます。
曲面、球面體、パイプの內(nèi)部でも測定可能
曲面、球面體でも測定可能です。また、パイプ等內(nèi)面も測定できます(φ12.7mm以上)。
高周波電流を流したプローブ(測定子コイル)を金屬に接近させると、金屬表層部に渦電流が生じます。この渦電流は、高周波磁界の強(qiáng)さ、周波數(shù)、その金屬の導(dǎo)電性、厚さ、形狀等により影響を受け、浸透深さ及びその大きさが異なります。 そして渦電流は、プローブの高周波磁界を打ち消すように流れますので、プローブの高周波抵抗値が変化します。この高周波抵抗値の変化分を増幅し、メーターで表示します。こうすることによりメーターの振れから膜厚値を読み取ることができます。膜厚値とメータの振れは一般に比例していませんので、直読目盛板を使用して、膜厚値を直接読み取ります。 |
電源 | 単三乾電池8本、ACアダプタ使用時(shí)AC100V |
重量 | 2.0kg |
寸法 | 250(W)×89(D)×186(H)mm |
発振周波數(shù) | A 107.8kHz B 431kHz C 1725kHz D 6.9MHz |
(注)仕様は予告なく変更されることがあります。
1.プローブの効果範(fàn)囲 極細(xì)プローブ使用時(shí) | φ5mm φ3mm |
2.プローブのコードの長さ | 900mm |
3.ガイドの種類により曲面上の測定可能 | |
4.プローブの種類 | MP型 …平凸凹曲面用(標(biāo)準(zhǔn)) SM型 …平凸凹曲面用(極細(xì)) RP型 …凹曲面、パイプ內(nèi)面用 SR型 …小徑パイプ內(nèi)面用 上記プローブには測定する膜厚により各々A、B、C、Dの4種類があります。 |
5.プローブガイド | #180:平面測定用 #120:φ25~60mm凸曲面測定用 #90 :φ30mm以下の凸曲面測定用 |
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